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13423289528（謝經(jīng)理）
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1 絕緣厚度的測量
1.1 測量裝置
讀數(shù)顯微鏡或放大倍數(shù)至少10倍的投影儀，兩種裝置讀數(shù)均至0.01mm。當(dāng)測量絕緣厚度小于0.05mm時，則小數(shù)點(diǎn)后第三位數(shù)為估計讀數(shù)。
1.2 試樣制備金龍羽電纜
從絕緣上去除所有護(hù)層，抽出導(dǎo)體和隔離層（若有的話）。小心操作以免損壞絕緣，內(nèi)外半導(dǎo)電層若與絕緣粘連在一起，則不必去掉。
每一試件由一絕緣薄片組成。應(yīng)用適當(dāng)?shù)墓ぞ撸ㄤh利的刀片如剃金龍羽電纜刀刀片等）沿著與導(dǎo)體軸線相垂直的平面切取薄片。
如果絕緣上有壓印標(biāo)記凹痕，則會使該處厚度變薄，因此試件應(yīng)取包含該標(biāo)記的一段。
1.3 測量步驟
將試件置于測量裝置的金龍羽電纜工作面上,切割面與光軸垂直。
a）當(dāng)試件內(nèi)側(cè)為圓形時，應(yīng)按圖1徑向測量6點(diǎn)。如是扇形絕緣線芯，則按圖2測量6點(diǎn)。
b）當(dāng)絕緣是從絞合導(dǎo)體上截取時，應(yīng)按圖3和圖4徑向測量6點(diǎn)。
c）當(dāng)試件外表面凹凸不平時，應(yīng)按圖5測量6點(diǎn)。
d）當(dāng)絕緣內(nèi)外均有不可去除的屏蔽層時，屏蔽層厚度應(yīng)從測量值中減去。當(dāng)不透明絕緣內(nèi)外均有不可除去的屏蔽層時，應(yīng)使用讀數(shù)顯微鏡測量。
e）無護(hù)套扁平軟線應(yīng)按圖6測量。兩導(dǎo)體之間最短距離的一半作為絕緣線芯的絕緣厚度。在任何情況下。第一次測量應(yīng)在絕緣的最薄處進(jìn)行。
如果絕緣試件包括壓印標(biāo)記凹痕，則該處絕緣厚度不應(yīng)用來計算平均厚度。但在任何情況下，壓印標(biāo)記凹痕處的絕緣厚度應(yīng)符合有關(guān)電纜產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的最小值。
若規(guī)定的絕緣厚度為0.金龍羽電纜5mm時，則讀數(shù)應(yīng)測量到小數(shù)點(diǎn)后兩位（以mm計）；若規(guī)定的絕緣厚度小于0.5mm時。則讀數(shù)應(yīng)測量到小數(shù)點(diǎn)后三位，第三位為估計數(shù)。
1.4 測量結(jié)果及計算
每個試樣的平均厚度為試片各點(diǎn)測量值的算術(shù)平均值表示。
2 護(hù)套厚度的測量
2.1 測量裝置
與1.1條相同。
2.2 試樣制備
去除護(hù)套內(nèi)外所有元件（若有的話），用一適當(dāng)?shù)墓ぞ撸ㄤh利的刀片如剃刀刀片等）沿垂直于電纜軸線平面切取薄片。
如果護(hù)套上有壓印標(biāo)記凹痕，則會使該處厚度變薄，因此試件應(yīng)取包含該標(biāo)記的一段。
2.3 測量步驟
將試件置于測量裝置的工作面上，切割面與光軸垂直。
a）當(dāng)試件內(nèi)側(cè)為圓形時，應(yīng)按圖1徑向測量6點(diǎn)。
b）如果試件的內(nèi)圓表面實質(zhì)上是不規(guī)整或不光滑的，則應(yīng)按圖7在護(hù)套最薄處徑向測量6點(diǎn)。
c）當(dāng)試件內(nèi)側(cè)有導(dǎo)體造成很深的凹槽時，應(yīng)按圖8在每個凹槽底部徑向測量。當(dāng)凹槽數(shù)目超過6個時，應(yīng)按b）條進(jìn)行測量。
d）當(dāng)因刮膠帶或肋條形護(hù)套外形引起護(hù)套外表面不規(guī)整時，應(yīng)按圖9進(jìn)行測量。
e）對于有護(hù)套的扁平軟線，應(yīng)按圖10在與每個絕緣線芯截面的短軸大致平行的方向及長軸上分別測量。但無論如何應(yīng)在最薄處測量一點(diǎn)。
f）六芯及以下有護(hù)套的扁平電纜應(yīng)按圖11進(jìn)行測量：
——在圓弧形兩頭沿著橫截面的長軸進(jìn)行測量；
——在扁平的兩邊，在第一根和最后一根絕緣線芯上測量，如果最薄厚度不在上述幾次測量中，則應(yīng)增加最薄處及其對面方向上厚度的測量。
上述規(guī)定也適用于六芯以上扁平電纜護(hù)套厚度的測量，但應(yīng)增加中間絕緣線芯處或者當(dāng)絕緣芯數(shù)為偶數(shù)時取中間兩個絕緣線芯之一進(jìn)行測量。
在任何情況下，必須有一次測量在護(hù)套最薄處進(jìn)行。
如果護(hù)套試樣包括壓印標(biāo)記凹痕，則該處厚度不應(yīng)用來計算平均厚度。但在任何情況下。壓印標(biāo)記凹痕處的護(hù)套厚度應(yīng)符合有關(guān)電纜產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的最小值。
讀數(shù)應(yīng)到小數(shù)點(diǎn)后兩位（以mm計）。
2.4 測量結(jié)果及計算
每個試樣的平均厚度為試片各點(diǎn)測量值的算術(shù)平均值表示
3 外形尺寸的測量
3.1 測量步驟
電纜技術(shù)網(wǎng)
電纜技術(shù)網(wǎng)
電纜技術(shù)網(wǎng)
電纜技術(shù)網(wǎng)
a）軟線和電纜的外徑超過25mm時，應(yīng)用測量帶測量其周長，然后計算直徑。也可使用能直接讀數(shù)的測量帶測量。
例行試驗允許用刻度千分尺或游標(biāo)卡尺測量，測量時應(yīng)盡量減小接觸壓力。
b）軟線和電纜的外徑超過25mm時，應(yīng)用測量帶測量其周長，然后計算直徑。也可使用能直接讀數(shù)的測量帶測量。
c）扁平軟線和電纜應(yīng)使用測微計、投影儀或類似的儀器沿著橫截面的長軸和短軸進(jìn)行測量。除非有關(guān)電纜產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中另有規(guī)定，尺寸為25mm及以下者，讀數(shù)應(yīng)到小數(shù)點(diǎn)后兩為（以mm計）；尺寸為25mm以上者，讀數(shù)應(yīng)到小數(shù)點(diǎn)后一位。
3.2 測量結(jié)果及計算
a）試樣直徑在25mm以下者，其平均外徑D測量結(jié)果應(yīng)由試樣上測得各點(diǎn)數(shù)據(jù)的平均值表示。a）軟線和電纜的外徑超過25mm時，應(yīng)用測量帶測量其周長，然后計算直徑。也可使用能直接讀數(shù)的測量帶測量。
例行試驗允許用刻度千分尺或游標(biāo)卡尺測量，測量時應(yīng)盡量減小接觸壓力。
b）軟線和電纜的外徑超過25mm時，應(yīng)用測量帶測量其周長，然后計算直徑。也可使用能直接讀數(shù)的測量帶測量。
c）扁平軟線和電纜應(yīng)使用測微計、投影儀或類似的儀器沿著橫截面的長軸和短軸進(jìn)行測量。除非有關(guān)電纜產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中另有規(guī)定，尺寸為25mm及以下者，讀數(shù)應(yīng)到小數(shù)點(diǎn)后兩為（以mm計）；尺寸為25mm以上者，讀數(shù)應(yīng)到小數(shù)點(diǎn)后一位。
3.2 測量結(jié)果及計算
a）試樣直徑在25mm以下者，其平均外徑D測量結(jié)果應(yīng)由試樣上測得各點(diǎn)數(shù)據(jù)的平均值表示。
b）用測量帶測量結(jié)果按下式計算：
電纜技術(shù)網(wǎng)
式中:L——測出的周長（mm）
Δ——紙帶厚度（mm）
D——試樣平均外徑，mm
4 厚度偏差率和偏心度的測量及計算
4.1 概述
偏差率：是偏離平均厚度的數(shù)值與平均厚度的比值的百分?jǐn)?shù)，用C（%）表示。
偏心度：是平均絕緣（護(hù)套）厚度和最薄處厚度差與絕緣（或護(hù)套）外徑比值的百分?jǐn)?shù)，用P（%）表示。
4.2 測量
先測出絕緣或護(hù)套的內(nèi)直徑d和外徑D，再測出絕緣或護(hù)套的最薄厚度b。
4.3 計算
偏差率按下式計算：電纜技術(shù)網(wǎng)
偏心度按下式計算：電纜技術(shù)網(wǎng)
5 絕緣和護(hù)套密度（比重）測定方法
絕緣和護(hù)套密度的測定方法通常采用懸浮法。
5.1 試驗器材
1）密度小于1g/ml的分析級乙醇（酒精）或其它合適的試液；
2）密度大于等于1g/ml的氯化鋅溶液；
3）蒸餾水；
4）混合量筒；
5）恒溫器；
6）在23℃校正過的比重計；
7）0.1℃刻度的溫度計。
5.2 試驗步驟
5.2.1 沿著與導(dǎo)體軸線垂直的方向，在被試絕緣或護(hù)套上切取試樣，并切成邊長為1mm至2mm的小塊，將試樣放入試液中使其呈懸浮狀來測定其密度。試液與被試材料不應(yīng)發(fā)生化學(xué)反應(yīng)。
合適的試液如下：
——密度小于1g/ml的乙醇和水的混合物。
——密度大于等于1g/ml的氯化鋅和水混合物。
5.2.2 在（23±0.1）℃溫度下，將3塊試樣放入試液中，避免形成氣泡。然后將蒸餾水加到試液中，直到試樣懸浮在試液中。試液混合物應(yīng)均勻并在規(guī)定的溫度下保存。
混合試液的密度應(yīng)用比重計測定，讀數(shù)到小數(shù)點(diǎn)后三位，測得的密度就是被測試樣的密度。